Modello: JEM 2100 Plus realizzato dalla ditta JEOL Ltd (Giappone).

• Sorgente: Cristallo di LaB₆ di tipo “Cool beam”
• Risoluzione in modalità TEM: puntuale £0,23 nm, reticolare £0,14 nm
• Pezzi polari tipo HR (High Resolution)
• Tensione acceleratrice: min. 80KV, max. 200KV
• Ingrandimenti in modalità TEM: min. x30, max. x1’500’000
• Acquisizione dell'immagine: con telecamera CMOS Rio9 di Gatan ad alta risoluzione (9 μm pixel, 3072 x 3072 pixels), ampio campo di visione (9 Mpixels) alta velocità (15 fps)
• Unità STEM digitale a risoluzione atomica (ingrandimenti 100x-2.000.000x) comprensiva di rivelatori per campo chiaro (Bright Field, BF), campo scuro (Dark Field, DF) e campo scuro anulare ad alto angolo (high angle annular dark field, HAADF). Risoluzione BF 1 nm.
• Sistema di microanalisi EDS Bruker Quantax 200-STEM, completo di rivelatore EDS X-Flash tipo SDD ad elevato numero di conteggi con area attiva da 100mm² e risoluzione di 129eV.
• Dimensioni spot: TEM (20-200nm); EDS (1-25nm)
• Convergent Beam Electron Diffraction: angolo di convergenza da 1.5 a 20 mrad o > con angolo di acceptance ±10°
• Lunghezza di camera (Selected Area Diffraction) da 80 a 2000mm

• 1 portacampione a singolo tilt
• 1 portacampione a doppio tilt con inserti in berillio per analisi EDS e per diffrazione
• 1 un portacampione ad alto tilt per le tomografie: inclinazione massima dello stage raggiungibile con portacampione ad alto angolo di tilt pari a 80°

• 1 stazione di pompaggio JEOL per il mantenimento in vuoto pulito fino a 5 portacampioni
• 1 Ion Cleaner per la pulizia dei campioni su portacampioni prima dell’inserimento nel microscopio

Il TEM è stato installato in una stanza corredata di sistema di compensazione dei campi elettromagnetici (SC24 Magnetic Field Cancelling System, Spicer Consulting)